黃金飾品的無損檢測(cè)法

日期：2009/07/17 來源：編輯：vivian

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黃金飾品的無損檢測(cè)方法

——X射線熒光光譜法

這里介紹作者在擔(dān)任貴州黃金珠寶檢測(cè)中心法人、主任時(shí)，由中心賈立宇、李興森起草制定的，已被貴州省技術(shù)監(jiān)督局1996-12-12批準(zhǔn)，列為貴州省地方標(biāo)準(zhǔn)，1997年1月1日實(shí)施，文號(hào)DB52/T412-1996“黃金飾品的無損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法”。

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線熒光光譜儀測(cè)定黃金飾品及其它黃金制品中金及雜質(zhì)元素含量的辦法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于均勻組分黃金飾品的無損檢測(cè)。

2引用標(biāo)準(zhǔn)

下列標(biāo)準(zhǔn)包含的條文，通過本標(biāo)準(zhǔn)引用而構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)。在標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效，所有標(biāo)準(zhǔn)均會(huì)被修改，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。

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3原理

樣品在原級(jí)X射線激發(fā)下，各元素產(chǎn)生各自的二次特征X射線（熒光）輻射。在激發(fā)條件一定的情況下，熒光輻射強(qiáng)度于蓋元素在樣品中的含量呈正比。通過測(cè)量各元素的熒光輻射強(qiáng)度，并由計(jì)算機(jī)按一定數(shù)學(xué)模式計(jì)算，可以求出各元素在飾品中的含量。測(cè)量前后，飾品結(jié)構(gòu)、成分和形狀均不改變，檢測(cè)為無損檢測(cè)。

4儀器及材料

4．1波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

4．2聚乙烯薄膜底托透空樣品盒

4．3標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：首飾金系列成分分析國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

5測(cè)量

5．1環(huán)境條件：溫度24±2℃；相對(duì)濕度<60%。

5．2測(cè)量條件；見附錄A（提示的附錄）

5．3飾品為各種款式的戒指、耳環(huán)、吊墜、手腳鏈、項(xiàng)鏈、雞心等。

5．4檢測(cè)步驟

5.4.1裝樣。

將飾品置于樣品盒中央，如遇易移動(dòng)樣品可用一般透明膠紙或水加以固定。

5.4.2開主機(jī)。

5.4.3開X射線管，升至檢測(cè)所需電壓、電流。

5.4.4從計(jì)算機(jī)上調(diào)用測(cè)量程序，輸入樣品編號(hào)。

5.4.5將裝有樣品的樣品盒按順序排列于自動(dòng)進(jìn)樣器的塔盤上。

5.4.6啟動(dòng)測(cè)量程序，儀器自動(dòng)進(jìn)行進(jìn)樣、樣品室抽真空、測(cè)定、退樣、計(jì)算及打印結(jié)果。

6分析結(jié)果的評(píng)定及處理

6.1本法采用多標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)校正法，以瑞利散射線盒Au的特征線分別作Ag、Cu、Zn、Ni的內(nèi)標(biāo)，使用相對(duì)強(qiáng)度校正樣品的表面效應(yīng)。采用L-T模式校正樣品的基體效應(yīng)。并根據(jù)樣品中主、次元素含量變化較大的特點(diǎn)，運(yùn)用分段回歸。

回歸方程：Xi= aiI2i+ bi Ii+ ci-

式中：

Xi-未校正分析元素含量；

Ii-分析線相對(duì)強(qiáng)度；

ai、bi、ci-回歸系數(shù)。

基體校正方程：ωi= Xi(1+Ki+∑AijFi)+Ci

式中：

ωi -分析元素含量；

Fi-影響元素分析線相對(duì)強(qiáng)度；

j-影響元素；

A、C、K-干擾校正系數(shù)。

6.2輸入分析元素測(cè)量條件和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)各元素的推薦值。